| № п/п |
Наименование методики |
Наименование организации, аттестовавшей методику |
| 1 |
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур при низких температурах до 1,3К в магнитном поле с помощью установки «Криомагнитная система 0,3К/16Тл» |
ФИАН |
| 2 |
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур при сверхнизких температурах в магнитном поле с помощью установки «Криомагнитная система 0,03К/13Тесла» |
нет |
| 3 |
Методика измерений полевой и температурной зависимостей магнитного момента и магнитной воприимчивости материалов на с помощью установки «MPMS-XL-7» |
ФИАН |
| 4 |
Методика измерения транспортных характеристик (сопротивление, магнитосопротивление, холловское сопротивление) металлических и полупроводниковых структур при субгелиевых температурах и в магнитных полях до 9Тесла с помощью автоматизированного комплекса «PPMS-9» |
ФИАН |
| 5 |
Методика измерения второй гармоники сверхпроводящей ток-фазовой зависимости джозефсоновских гетероструктур |
нет |
| 6 |
Методика измерения интенсивностей рентгеновских отражений на монокристальном четырехкружном дифрактометре BRUKER AXS Р-4 |
ИПХФ РАН |
| 7 |
Методика измерения сопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур при сверхнизких температурах до 0,3К в магнитном поле с помощью установки «Криомагнитная система 0,3К/16Тл» |
ФИАН |
| 8 |
Методика измерения анизотропии магнитосопротивления металлических и полупроводниковых образцов и наноструктур при субгелиевых температурах (до 0,3К) в магнитном поле с помощью установки «Криомагнитная система 0,3К/16Тл» |
нет |
| 9 |
Методика измерений характеристик сверхпроводниковых структур наноэлектроники (полоса преобразования, шумовая температура) в ГГц и ТГц диапазоне частот (на площадке МПГУ) |
МПГУ |
| 10 |
Методика измерения теплоемкости металлических и полупроводниковых структур при субгелиевых температурах (до 0,4К) и в магнитных полях до 9Тесла с помощью автоматизированного комплекса «PPMS-9» |
ФИАН |
| 11 |
Методика измерений фазового состава поликристаллических образцов рентгенодифракционным способом на дифрактометре ДРОН-2 |
нет |
| 12 |
Методика измерений параметров решетки, толщины и состава монокристаллических эпитаксиальных квантовых ям с помощью дифрактометра X'PertPro |
ФГУП ВНИИМС |
| 13 |
Методика измерения мощности излучения полупроводниковых лазеров на квантовых точках |
ФГУП ВНИИМС |
| 14 |
Методика измерения мощности отражения и поглощения в диапазоне длин волн 1-1000мкм с помощью Фурье-спектрометра IFS-125 |
ФИАН |
| 15 |
Методика измерения топографии поверхности и потенциального рельефа с помощью зондового микроскопа Solver P47-Pro |
ФИАН |
| 16 |
Методика измерения теплоемкости образцов в диапазоне температур 2-500К с помощью установки PPMS-9 |
ФИАН |
| 17 |
Методика измерения температурной зависимости магнитной воприимчивости материалов на с помощью установки СКВИД-магнитометр в диапазоне температур 2-300К и полей до 0.25Тл |
ФИАН |
| 18 |
Методика измерения критических токов и переходных процессов в ВТСП устройствах и проводах |
ФИАН |
| 19 |
Методика измерений температурной зависимости химического потенциала в диапазоне температур 4,2-300К |
нет |
| 20 |
Методика измерений геометрического профиля поверхности материалов с помощью электронного микроскопа JSM-7001FA |
ФИАН |
| 21 |
Методика измерений катодолюминесценции поверхности образцов с помощью электронного микроскопа JSM-7001FA |
ФИАН |
| 22 |
Методика измерений локального элементного состава поверхности методом EDS с помощью электронного микроскопа JSM-7001FA |
ФИАН |
| 23 |
Методика измерения магнитного момента образцов в диапазоне температур 0,35-500К с помощью установки PPMS-9 |
ФИАН |