РАЗРАБОТКИ



РАЗРАБОТКИ

1. МНОГOСЛОЙНЫЕ РЕНТГЕНОВСКИЕ ЗЕРКАЛА.

Дифракционная, фокусирующая и изображающая многослойная оптика дает новый импульс в развитии всех областей применения рентгеновских лучей: рентгеновская микроскопия, спектроскопия, микролитография, астрофизика, диагностика плазмы, микроанализ, биология, лазеры и т.д.

Гибкость выбора миатериалов, периодов и числа периодов позволяет разрабатывать и использовать многослойные рентгеновские зеркала во всем мягком рентгеновском диапазоне.

 Более подробно>>

2. ОБЪЕКТИВ ШВАРЦШИЛЬДА ДЛЯ МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ДИАПАЗОНА.

Московская рентгенооптическая группа представляет микроскоп для мягкого рентгеновского диапазона (длина волны излучения 10-47 нм, энергия - 26-124 эВ). Эта рентгенооптическая система предназначена для получения увеличенных изображений как светящихся, так и несветящихся объектов с пространственным разрешением около 0,1 мкм. Рентгеновский микроскоп сочетает в себе такие качества как субмикронное пространственное разрешение, большое поле зрения и возможность исследовать структуру объектов в мягком рентгеновском диапазоне. Эта уникальная комбинация характеристик прибора несомненно является основой для новых методов исследований и анализа в науке, технике, медицине и производстве.

Возможные области применения рентгеновского микроскопа:
  • исследование различных опухолей в человеческом теле и мозге;
  • онкологические обследования;
  • материаловедение;
  • изучение локализации различных химических элементов в образцах;
  • флуоресцентная спектромикрокопия;
  • контроль качества рентгеновских шаблонов, дифракционных решеток
  • и зонных пластинок;
  • исследование тонких мембран и тонких пленок
Преимущества техники рентгеновской микроскопии:
    по сравнению с методами электронной микроскопии:
  • нет необходимости наносить проводящую металлическую пленку на объект,
  • как это делается в сканирующей электронной микроскопии (СЭМ);
  • исследуемый образец может иметь толщину существенно большую, чем
  • допустимо для пропускающей электронной микроскопии (ПЭМ). Это делает возможным трехмерный анализ "толстых" образцов в рентгеновской микроскопии;
  • объектами исследования могут быть мало измененные, влагосодержащие
  • и даже живые биологический ткани;
  • резонансное взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
  • делает возможным изучение химической структуры образца, при этом во многих случаях получаемая информация является уникальной и может быть получена только в рентгеновских лучах.
    по сравнению с методами микроскопии видимого и УФ диапазонов:
  • рентгеновская микроскопия обеспечивает существенно лучшее пространственное разрешение;
  • резонансное взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
  • делает возможным изучение химической структуры образца, при этом во многих случаях получаемая информация является уникальной и может быть получена только в рентгеновских лучах.

Более подробно>>

3. КОМПАКТНЫЙ СПЕКТРОМЕТР ДЛЯ МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ДИАПАЗОНА НА OСНОВЕ СРЕЗА МНОГОСЛОЙНОЙ СТРУКТУРЫ

В приборе в качестве дисперсионного элемента используется новый тип дифракционных решеток на основе срезов многослойных структур, которые сочетают высокую эффективность дифракции и высокое спектральное разрешение. Компактность прибора обеспечивается высокой угловой дисперсией. Спектрометр нечувствителен к разъюстировке, вибрациям, тепловым и радиационным нагрузкам.

Возможные области применения:


1. Диагностика плазмы ТОКАМАКа
2. Космические исследования, физика солнца
3. Рентгеновские лазеры
4. Диагностика лабораторной плазмы
5. Тестирование рентгеновских зеркал
6. Синхротроны
7. Материаловедение

Более подробно>>


Все продукты могут быть доставлены в течение 10-12 недель after receiving
the correspondent Purchase Order.
Контактное лицо: Артюков Игорь Анатольевич, факс: (095) 135-7880, тел. (095) 132-1666,
e-mail: iart@sci.lebedev.ru